X射线探伤检测设备:

一、仪器简介：

 XDX-DF430型无损检测设备采用s350数字成像系统成像， 0.5微焦点射线管集约束散射线,数字成像,图像清晰.仪器全数字化软件操作功能；正反选图像、图像放大缩小、左右旋转,前后旋转、翻转、数字化高清灰度专业图像采集、千兆网端有线和无线连接，电脑即时成像、存储和即时打印检测效果图片。

二、仪器特点：

 XDX-DF350型无损检测设备,主要针对电子元器件、封装元器、半导体元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、集成电路、连接器、电热丝、电路板、发热管、发热丝、电子产品内部结构是否变形、脱焊、空焊移位、等检测；同时还可用于:铸件、压模铸件、注塑件、气孔、气泡等检测.

仪器技术参数：

1、数字成像视场: 430X430mm（不同面积可订制)       

2、像素间距：140um；         

3、间距：300-800mm；        

4、A/D转换；16/bits           

5、空间分辨率；4.0LP/mm

6、管电压：40-160kv；         

7、管靶流：0.2-1.5mA；

8、电脑系统:windows10；

9、电脑尺寸:15寸台式电脑(有线无线连接电脑)

10、远程控制: 远程操作软件；

11、有线传输端口：千兆网口；

12、无线传输:5G wifi；

13、外形尺寸：1350×800x720mm；

14、主机重量：210kg；           

15、适配器输出电压：DC24V。

16、交流电源频率:50-60hz；