产品价格:118000.00 元(人民币) 上架日期:2012年9月25日 产地:上海 发货地:上海 (发货期:当天内发货) 供应数量:不限 最少起订:1台 浏览量:369 暂无相关下载 其他资料下载:
简要说明:
两厢型号
工作室尺寸( 深*宽*高mm )
试片重量
XF/CJ-100L
400*500*500
≤7kg
XF/CJ-500L
800*800*800
≤10kg
三厢型号
XF/CJ-50L
350*350*400
≤20kg
≤50kg
温度范围
A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~150℃ D:-70℃~150
波动/均匀度
高温室及低温室均匀度≤±0.5℃ /±2℃(恒温时)
温度/误差
高温室及低温室均匀度±3℃
备 注:
其他尺寸可定做。
箱体规:
外壳
1.5mm厚冷轧钢板
颜色
乳白色环保烤漆(可选颜色)
内胆
1.2mmSUS304不锈钢拉丝板
保温层
100mm超细保温玻璃棉,高温低温箱体外部无发烫和凝露
箱体隔层
两层不锈钢网状结构,可随意调节高度。
照明
节能照明,能清楚看到箱体内试验产品情况
硅胶条
抗老化高温硅胶条可耐400℃高温和-180℃低温
安全保护系统
超温报警、欠相缺相保护、过电流保护、快速熔断器、压缩机高低压保护、压缩机过热保护、压缩机过电流保护、缺气保护、线路保险丝及全护套式端子、接地保护。
满足标准:
GBT 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温 GBT 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 GJB150.5-1986 军用设备环境试验方法 温度冲击试验 HB5830.10-1984 机械设备环境条件及试验方式 温度冲击试验 BSEN2591-323 电气和光学连接元件 温度冲击试验
GBT 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温
GBT 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GJB150.5-1986
军用设备环境试验方法 温度冲击试验
HB5830.10-1984
机械设备环境条件及试验方式 温度冲击试验
BSEN2591-323
电气和光学连接元件 温度冲击试验