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产品价格:1   元(人民币)
上架日期:2011年12月27日
产地:本地
发货地:深圳市  (发货期:当天内发货)
供应数量:不限
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  详细说明  
品牌:Agilent产地:本地
价格:1人民币/台规格:HP 4263B

简要说明:Agilent牌的#!回收Agilent HP 4263B长期现金高价上门收购产品:估价:1,规格:HP 4263B,产品系列编号:齐全

详细介绍:

#!回收Agilent HP 4263B长期现金高价上门收购AgilentE4263B  HP4263B请电询:余S郭R 075581718029 13713919615

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地址:深圳市罗湖区蔡屋围京基金融中心蔡屋围金龙大厦1618

Agilent 4263B LCR测试仪
厂商名称: Agilent(安捷伦)
商品名称: LCR测试仪
商品型号: 4263B
Alilent 4263B LCR测试仪是Agilent公司生产的最价廉物美的低档LCR测试仪,供生产线上的元件评估和实验室中的基本阻抗测试使用。4263B具有能在正确状态下对测试进行模拟的5个测试频率,即100Hz,120Hz,1kHz和100kHz。在这5个频率之外还可增添供选用的20kHz测试频率(选件002)。
    
    高速测量
    
    Agilent 4263B依靠在任何测试频率上都有25ms的测量速度来提高一产率,这种能力提高了电解电容顺和变压器测试的效率,4263B能检查测试端子与被测件(DUT)之间的接触状况,这种功能保证在生产中用自动处理器进行合格。不合格的测试的可靠性,有故障的被测件一旦从处理器中取去该仪器便能立即恢复正常工作,因此处理器始终能以最高速度工作。
    
    电解电容器测量
    
    Ailent 4263B的精度和宽的测量范围是对电解电容器进行精密测量的很好保证。充电后的电容器可能经常端放电,从而使仪器损坏。4263B的前端设计考虑了保护作用,能保持测试正常进行。
    
    变压器参数测量
    
    技术指标:
    
    由于Ailent 4263B能进行匝数比(N),互感(M)和直流电阻(DCR)测量,故数据计算和改变测试装置不再是费时的工作(选件001)灵活的信号电平高速和电压、电流监视功能使4263B特别适用于测量与电平有关的被测件,始磁芯电感器。
    
    测量功能
    测量参数 |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR
    选件001 增加DCR(直流电阻),N(匝数比)和M(互感)测量
    测量电路形式 串联和并联
    数学功能 偏差和百分偏差
    测试电缆长度 0m,1m,2m,4m,(频率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(频率=10kHz/20kHz);0m,1m(频率=100kHz)
    测试信号数据
    测试频率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz
    选件002 增加20kHz测试频率
    频率精度 ±0.01%(频率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)
    输出阻抗 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程)
    
    交流测试信号电平 20mV~1Vrms,以5mVrms分档
    精度 ±(10%+10mV)
    内部直流偏置
    电平 1.5和2V;精度:±(5%+2mV)
    
    外部直流偏置 0~+2.5V
    测量范围 参数
     测量范围
    |Z|,R,X 1mΩ-100MΩ
    |Y|,G,B 10nS-1000S
    C 1pF-1F
    L 10nH-100kH
    D 0.0001-9.9999
    Q 0.1-9999.9
    θ -180°~+180°
    DCR 1mΩ-100MΩ
    N 0.9-200(待定)
    L,M 1μH-100H(待定)
    Δ% -999.99%-+999.99%
    测量精度: ±0.1%(基本精度)(适用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL)
    测量时间
    模式 时间(典型值)
    短 25ms
    中等 65ms
    长 500ms
    测试信号电平监视器: 电压和电流
    前端保护: 当充电电容器连接到输入端时内部电路便函起保护作用。最大电容器电压为;在
    Vmax≤250V时,Vmax=√(8/C)(典型值);在Vmax≤1000V时,Vmax=√(2/C)(典型值),C单位为F。
    
    显示数字: 3,4或5位(可选择)
    修正功能:
    开路/短路误差为0: 消除由测量夹具中杂散寄生阻抗引起的测量误差
    负载: 利用一个已校器件作为参考来改善测量的精度
    比较功能: 对每个一次测量参数和二次测量参数给出高/符合/低(HEGH/IN/LOW)比较结果
    接触检查功能: 可以检测测试夹具与器件之间的接触故障。接触检查的附加时间为5ms
    其它功能
    存储/调用: 可以存储和从内部非易失存储器调用10个仪器设置
    连续存储功能: 若仪器补关断或出现电源故障。仪器设置(直流偏置接通/切断除外)将自动被存储起来(在23°±5℃下≦72小时)
    GPIB接口 所有控制设置,被测值和比较器信息
    处理器接口 所有输出信号均为负逻辑,光隔离的开路集电极。输出信号包括HIGH/IN/LOW,不接触,序号,测量结束和报警。输入信号包括键锁定和外触发

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